Rayzen 软件产品基于低差异序列蒙特卡洛、非序列正向光线追迹与快速求交算法,通过分析光学元件表面的形貌、光学属性以及内部的材料性质对光线在复杂光学系统中的传播路径、折射、反射、散射等行为产生的作用和影响,可以广泛用于成像系统杂散光分析,照明系统光照分布、以及集光、导光系统中光能的传输与提取等应用方向的仿真与设计。是成像和非成像光学设计、光电子元器件、光子系统集成、显示面板以及光学薄膜等研发领域的专用工具。
| 非序列光线追迹 | 正向追迹 |
| *逆向追迹 | |
| *混合追迹 | |
| *序列光线追迹 | |
| *公差分析 | |
| *优化 | |
| 材料 | 各向同性 | 折射率 | 单值 |
| 表格插值 | |||
| Sellmeier | |||
| Cauchy | |||
| Conrady | |||
| Schott | |||
| Herzberger | |||
| Hartmann | |||
| 吸收 | 吸收系数 vs. 波长 | ||
| 消光系数 vs. 波长 | |||
| 透射率/长度 vs. 波长 | |||
| 光学密度 vs. 波长 | |||
| 体散射 | Henyey-Greenstein | ||
| *Gegenbauer | |||
| *Mie | |||
| *Phosphor | |||
| *双折射 | |||
| *渐变折射率 | |||
| 光学属性 | 理想平滑表面 | ||
| 散射 | 朗伯散射 | ||
| 高斯散射 | |||
| CosN 散射 | |||
| 实测 BSDF | |||
| *Abg | |||
| *Harvey-Shack | |||
| *Microfacet | |||
| *光栅 | |||
| 光源 | 虚拟光源 | 点光源 | |
| 二维面光源 | |||
| *体光源 | |||
| *数据光源 | |||
| *三维面光源 | |||
| *实体光源 | *三维面光源附加材料与光学属性 | ||
| 接收器 | 表面接收器(平面) | ||
| *表面接收器(曲面) | |||
| 远场接收器 | |||
| 接收器数据 | |
| 网格分布 | 照度 |
| 强度 | |
| 亮度 | |
| 光线数量 | |
| 功率 | |
| 色差 | |
| RGB | |
| 三色刺激值 | |
| 色品坐标 | |
| 色温 | |
| 光谱分布 | |
| 统计分析指标 | |
| 光线路径数据 | |
高精度快速仿真: 借助无偏的随机数、完备的抽样策略、全面的表面处理和可靠的几何处理模块,Rayzen 能够实现光学系统的高精度快速仿真。有助于加快产品研发和优化周期,提高工作效率。
广泛的应用领域: Rayzen 软件不仅在成像和非成像光学领域有广泛应用,还在 EDA/TCAD 行业中扮演重要角色。可以广泛用于光电子元器件、光子系统集成、显示面板和光学薄膜等领域的研发,提供专业的支持和解决方案。
多物理场联动仿真: Rayzen 与 Nuwa 软件的无缝接口实现了射线光学仿真与漂移扩散理论仿真的互通。这使得半导体元器件的仿真可以更准确地考虑电学、光学、热学和力学等多个物理场,从而提供更全面和准确的结果。
注: * 代表待开发功能。