膜层库

GMPT

简介

  光学膜层的核心原理是对于多层薄膜结构，在仿真中忽略其厚度，只用光线与膜层相互作用后的现象来进行简化表征。对于最常用的抗反射膜 (Quarter wavelength anti-reflector)，用户只需输入中心波长和膜层材料的折射率；对于多波长对应的带通滤光片，用户可以通过材料数据用薄膜堆积 (Thin Film Stack) 来进行计算。在实际光学设计中，理想化的薄膜干涉模型可能不足以完全描述带通滤光片的行为，特别是在有材料吸收、散射或膜层微观缺陷的情况下。因此，通过实验测量在不同波长和入射角下的反射率和透射率数据 (Measurement based)，可以更加精确地定义滤光片的光学特性。这些测量数据可以直接输入，替代理论计算的反射率和透射率，从而在仿真中更准确地描述滤光片的实际性能。使用这种方式可以更好地应对实际制造中的误差和不理想因素。

膜层类型列表

• 光学膜层从简单到复杂主要有以下三种定义形式：
  • 四分之一波长抗反射膜 (Quarter wavelength anti-reflector)
  • 实测透反射数据 (Measurement based)
  • 薄膜堆积 (Thin Film Stack) 分别代表了典型的理想膜层，通过导入实测数据模拟的膜层，以及从材料特性出发，从波动光学理论计算得出的膜层特性。